Продукция
Поточные анализаторы
Интеллектуальные проекты
Интеллектуальное решение
Анализ элементов
Анализ размеров частиц
Анализ концентрации
Анализ зольности
Анализ расхода
Анализ мельницы
Другой анализ
Анализ влажности
Анализ урвоня
Анализ органического состава
Интеллектуальный проект обогащения угля
Интеллектуальная система для металлургии
Интеллектуальный проект строительства
Главная страница - Медиа - Новости - Компания контрольно-измерительных технологий «Дунфан» приглашена для принятия участия в 60-й конференции IEEE и выставке в Сеуле, Республике Корея
Новости
Компания контрольно-измерительных технологий «Дунфан» приглашена для принятия участия в 60-й конференции IEEE и выставке в Сеуле, Республике Корея
время : 2014.01.08 Количество просмотров: 289



В период с 27 октября по 3 ноября 2013 года в выставочном центре COEX в Сеуле, Республике Корея прошла 60-я конференция по ядерным технологиям IEEE и выставка. На этих мероприятиях присутствовали заместитель генерального директора компании контрольно-измерительных технологий «Дунфан» Го Яньдоу, главный инженер Гун Ялинь, заместитель начальника отдела ядерных технологий Чжан Вэй и представитель компании из отдела планирования рыночной деятельности Лю Янь. Во время конференции делегация не только узнала о международных передовых технологиях в сфере ядерной науки, но и достигла намерений о технологическом сотрудничестве с рядом предприятий для дальнейшего повышения технологического уровня нашей продукции и для создания фундамента для дальнейшего исследования международного рынка.

IEEE - Международный институт электротехников и инженеров по электронному оборудованию (The Institute of Electrical and Electronics Engineers) имеет более 360 тысяч членов из 175 стран мира. Эта конференция IEEE проводится в Азии впервые, она разделена на 2 части - конференцию по технологиям и выставку.


Конференция по технологиям состоялась утром 27 октября, она была проведена председателем KNC (Корейской ассоциации ядерных технологий) г-ном Чжоном Кенг Кимом (Jong Kyung Kim), мероприятие привлекло старших ученых со всего мира из всех отделений IEEE, научно-исследовательских институтов и несколько тысяч главных представителей предприятий. Конференция главным образом была посвящена вопросам трех основных сфер - ядерной науке, вопросам получения изображений в медицинской сфере, полупроводниковым детекторам комнатной температуры. Представители компании заслушали многочисленные интересные доклады зарубежных экспертов и ученых по вопросам ядерной науки, защиты от излучения и дозиметрии, нейтронных детекторов, рентгеновских детекторов и т.д. Помимо этого, было организовано активное общение и взаимодействие с соответствующими учеными.


На второй день была открыта выставка, которая привлекла около 200 поставщиков со всего мира. С помощью этой платформы компания и ряд всемирно известных поставщиков смогли обменяться информацией, обсудить вопросы технического сотрудничества и заложить основу для повышения технологического уровня продукции.


Компания контрольно-измерительных технологий «Дунфан», являющаяся передовой базой международного уровня по разработке и производству промышленной онлайновой контрольно-измерительной аппаратуры, настойчиво стремится к инновациям в области ядерных технологий и постоянно совершенствует себя. Помимо этого, компания на основе международной выдающейся платформы для технологического сотрудничества, взаимовыгодного обмена и укрепления сотрудничества повышает конкурентоспособность продукции, оживляет национальную промышленность, создает бренд мирового уровня!


Контакты

Международный бизнес:+86 15842525537

E-mail:intersales@dfmc.cc/xiuli.wang@mail.ru

Адрес:№136 ул. Биньцзянчжунлу, зона осв

оения Яньцзян, г. Даньдун, пров. Ляонин  

Email обслуживания: Быстро запрос онлайн,
xiuli.wang@mail.ru
наши специалисты будут немедленно связаться с Вами !
Юридическое Заявление | Заявление о конфиденциальности | Карта сайта
©2018 Dandong Dongfang Measurement & Control Technology Co., Ltd. All rights reserved.№136 ул. Биньцзянчжунлу, зона освоения Яньцзян, г. Даньдун, пров. Ляонин ICP:06001789-1 Design by seqill.cn